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書名 不縮缸的產品: UVM晶片驗證技術業界實例 
作者 馬驍著 
出版機構 深智數位 
出版版次 初版 
圖書類號 448.618 
主題標題  晶片; 檢驗; 電子工程;;  
0-3歲嬰幼兒圖書分齡主題   
3-6歲幼兒圖書分齡主題   
適讀對象 成人(一般) 
建議上架分類 科學與技術 (含自然科學、電腦通訊、農業、工程、製造等) 
分級註記 普遍級 
關鍵字詞 UVM晶片;UVM;數據設計;數據整合;SystemVerilog;驗證平台開發;電子設計;代碼管理 

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封面 ISBN(裝訂方式) 頁數 頁寬 定價 出版年月 送存狀態
 9786267757093 (平裝) 424 23 NT$980 114/07 已送存
關鍵字詞
UVM晶片;UVM;數據設計;數據整合;SystemVerilog;驗證平台開發;電子設計;代碼管理

簡介
本書介紹UVM驗證環境的架構與應用,第1章說明可重用環境的設計概念,第2至4章探討DUT與測試平臺的連接方式,第5章介紹配置物件的快速配置與傳遞,第6章說明Reactive Slave驗證方法,第7至8章講解激勵控制機制,第9至10章探討記分板的快速實作,第11至12章介紹RTL與DUT內部訊號的監測與控制,第13章說明設計參數傳遞方法,第14章探討驗證平臺與設計整合,第15至16章解析事務級數據追蹤與Layered Protocol驗證,第17章介紹VIP的存取者模式,第18章講解UVM目標phase的額外等待機制,第19章探討模擬結束機制,第20章說明記分板與斷言檢查的結合,第21至22章介紹錯誤注入與ECC測試,第23章探討列舉型態變數應用,第24至25章說明UVM的SVA封裝與控制,第26至28章介紹晶片重置測試,第29至30章講解參數化類別壓縮與中斷處理,第31至32章探討提升覆蓋率與可重用方法,第33至36章介紹隨機約束技術,第37至40章解析暫存器建模,第41至44章說明UVM儲存建模與覆蓋率統計,第45至47章探討C語言存取、建模可讀性與後門存取,第48章介紹程式倉庫管理,第49至50章說明DPI與硬體模擬加速技術。

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